茂特斯秉承“质量、效率、创新、融合”的核心价值观和敬业的工匠精神，打造核心竞争力。
是我司自主研发、制造的高性能、高稳定性、高产出的系统级平移式测试分选机。人工将装有IC的JEDEC Tray放入到设备里，设备作业时会通过移载吸取模组，将IC从Tray上吸取，放置到设备的测试基座里进行测试。测试的环境有常温、高温、低温。待测试完成后，根据测试结果将IC放置到OK或NG的Tray上。人工取出Tray。
1. 设备尺寸：≧2760x1720x2000mm
2. 设备重量：2500KG
3. 测试站数量：X12\X24\X36\X48
4. 支持芯片尺寸：10x10 to 75x75(mm)
5. 测试板尺寸：≦260mm x 380mm
6. 测试时间：<12秒
7 接触力：Max 150kg, -/+ 0.2kg
8. 产能：420 units
9. 视觉检测能力：Marking\Lead\Ball inspection
10. Trays存储数量：2 input/output tray Track
11. 故障率：<1/3000
12. 数据收集：Jam rate,UPH,Yield
电话：0512-66569952
传真：0512-66569953
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